光学影像测量仪器有哪些？
编辑：自学文库
时间：2024年03月09日
常见的光学影像测量仪器包括： 1. 光学显微镜：适用于对小尺寸、微观结构的测量。
2. 分光光度计：用于测量样品的光谱特性。
3. 红外热成像仪：用于检测物体的红外辐射热能，适用于测量温度分布。
4. 全息术：利用光的干涉原理，实现三维物体的测量。
5. 激光扫描仪：通过激光束的扫描，获取物体表面的三维形状信息。
6. 特种摄像机：如红外摄像机、高速摄像机等，用于捕捉特殊环境或高速运动物体的图像。
7. 激光干涉仪：通过激光干涉原理，实现物体表面形貌的测量。
8. 光电二极管：用于测量光线强度。
9. 线扫描相机：适用于进行线性运动物体的测量，如轨道上的车辆。
10. 监视摄像机：用于实时监测和测量。
11. 透射电子显微镜：用高速电子通过物体并通过可视屏幕对样品进行观察和测量。
12. 核磁共振仪：通过测量样品的核磁共振信号来获得样品的结构和成分信息。
13. 热像仪：通过检测物体的热辐射，来反映物体的温度分布。
14. CD测量仪：用于测量CD（Compact Disc）的厚度和形状。
15. 光谱分析仪：用于测量样品的光谱特性和光学性能。
16. 电子显微镜：通过高能电子束与样品的相互作用，来观察并测量样品的微观结构。
17. 单色仪：用于测量光的波长和色彩。
18. 激光干涉仪：适用于测量薄膜、膜厚和表面形貌。
19. X射线衍射仪：利用X射线的衍射现象来研究样品的晶体结构和材料组成。
20. 光学干涉仪：基于干涉原理，用于测量物体的表面形貌和光学性质。
21. 反射测厚仪：通过测量反射光的干涉现象，来测量薄膜的厚度。
22. 深度感应测量仪：利用红外线或激光束感应物体的距离，来测量物体的深度。
23. 波动计：用于测量光的波长和频率。
24. 纳米影像仪：用于观察和测量纳米级别的物体或结构。
25. 斯托克斯参数仪：用于测量物体的光学参数，如透射率、反射率等。
26. 红外摄像仪：用于检测红外辐射热能，适用于测量热分布和热流量。
27. 偏振显微镜：用于观察样品的偏振现象，并测量样品的偏振性质。
28. 质谱仪：用于测量样品的质量和成分。
29. 高精度电子秤：用于测量物体的质量和重量。
30. 高压电子显微镜：适用于观察物体的微观表面形貌和内部结构。
31. 散斑干涉仪：利用散斑的干涉现象，测量样品的形貌和表面变形。
32. 雷达测距仪：利用雷达波的传播时间来测量物体的距离。
33. 多光谱相机：利用多个滤光片对不同波段的光进行拍摄和测量。
34. 径向基感应器：用于测量物体的径向位移和变形。
35. 双折射仪：用于检测样品的双折射现象，测量样品的光学性质。
36. 光弹试验仪：利用光弹效应，测量物体的应力和变形。
37. 红外光谱仪：用于测量样品在红外光区域的吸收特性。
38. 距离测量仪：适用于测量物体的距离和位置。
39. 倒影测量仪：用于测量物体表面的反射特性和光学性能。
40. 激光干涉测量仪：利用激光干涉原理，测量物体的形貌和表面特征。
41. 径向位移传感器：用于测量物体的径向位移和形变。
42. 哈特曼测量仪：适用于测量物体的形状和表面粗糙度。
43. 数码显微相机：用于对样品进行数字化的显微观察和测量。
44. 红外热像仪：通过测量物体的红外辐射热能，来反映物体的温度分布。
45. 光譜影像儀：用於分析和測量物體的光譜特性和材料特性。
46. 相位测量仪：适用于测量物体表面的相位差和形貌。
47. CCD相机：适用于捕捉高质量的图像数据，常用于机器视觉和测量应用。
48. 纳米位移测量仪：用于测量纳米级别的位移和形貌变化。
49. 光纤光谱仪：用于测量光源的光谱特性。
50. 激光干涉摄影仪：通过激光干涉原理，实现物体的快速扫描和形貌测量。