白光干涉仪能测什么东西?

编辑:自学文库 时间:2024年03月09日
白光干涉仪能测量光的干涉现象和光的相位差。
  它利用两束来自同一光源的光,通过一系列镜片、分束器和反射器的组合,使得光束以不同路径进行传播,并在特定位置重新相遇。
  当两束光重新相遇时,它们会发生干涉现象,产生干涉条纹。
  通过观察这些干涉条纹的形状、位置和强度变化,可以推断出光的相位差和光引起的透明介质的性质,如厚度、折射率等。
   白光干涉仪通常采用Michelson干涉仪的结构,其中包括一个分束器和两个反射镜。
  它可以用于测量薄膜的厚度、透明介质的折射率、反射率的变化。
  这种仪器还可用于测量光纤的长度、基底的折射率分布等。
  同时,白光干涉仪还可以应用于光学元件的质量检测,如透镜和棱镜的表面形貌检测、平行度测量等。
   总之,白光干涉仪可以测量光的干涉现象,推断出光的相位差和透明介质的性质,同时也可以应用于光纤长度和元件质量检测等领域。