白光干涉仪测量原理是什么?

编辑:自学文库 时间:2024年03月09日
白光干涉仪是一种重要的光学仪器,用于测量和分析物体的表面形态和薄膜厚度。
  其原理基于干涉现象,即当两束光波相遇时,根据波的叠加原理,会产生干涉条纹。
   白光干涉仪利用干涉现象来测量目标的形态和厚度。
  它的工作原理是: 1. 光源发出的白光通过凸透镜的透镜系统成为平行光束,然后通过一个半玻璃反射镜分成两束光; 2. 一束光射向目标表面,另一束光经过一个调节器调整路径再射向目标表面; 3. 光束在目标表面上发生反射和透射,并依据目标表面的形态和薄膜厚度发生相位差; 4. 反射光和透射光分别回到半玻璃反射镜并再次分离成两束; 5. 分离的光束经过两个凸透镜对焦,再通过一个傅里叶透镜进入一个光学探测器; 6. 光学探测器会将接收到的光信号转化成电信号,并通过电路系统进行处理和分析; 7. 结果会显示在仪器的屏幕上,可由操作人员进行观察和分析。
   通过测量干涉条纹的空间分布、密度和颜色,白光干涉仪可以确定目标表面的形态和薄膜厚度,可以应用于材料和化学分析、薄膜制造以及光学元件加工等领域。