近常压x射线光电子能谱可以测原位辐照XPS嘛？

是的，近常压X射线光电子能谱（NAP-XPS）可以用于原位辐照XPS测量。
  
NAP-XPS结合了X射线光电子能谱和辐射技术，可以在样品受到辐照的同时进行表面成分和电子能级的分析。
  
这种技术可以实时监测材料在辐照过程中的表面成分变化、电子能级移动等信息，为研究辐照对材料性质的影响提供了重要的实验手段。
  
通过使用NAP-XPS，我们可以更好地理解辐照对材料表面的影响机制，从而有助于改进材料的辐照抗性能。
  
因此，NAP-XPS是一种非常有用的工具，可以用于原位研究材料在辐照环境中的表面化学和物理变化。